真空断路器的电寿数才能指的是断路器在进行型式实验时经过的机械寿数次数及额外短路电流开断的次数，是做为断路器修理及灭弧室替换的重要依据。
户内高压真空断路器
户内高压真空断路器
通常断路器的电寿数都是经过对产品额外短路开断电流实验来统计，剖析获取的。下面罗列下获取真空断路器电寿数相关实验的流程：
某厂家对12kV真空断路器进行了75次额外短路开断电流实验，经过对5年间的约500份型式实验报告、原始记载及实验波形的详细剖析，并且跟踪记载了一台组成实验用辅佐断路器单极一年多的开断状况，进一步的研究和验证了12kV真空断路器极限电寿数才能数据的普遍性。
断路器型式实验报告的剖析结论：
查阅500余份真空断路器及开关柜的型式实验报告及原始记载后发现，共有75台次真空断路器试品在短路开断实验进程中出现问题。
剖析发现：产生问题试品的开断次数区段有这样一个规则：实验产品跟着开断次数的添加，实验失利率反而在大大削减。其间，产生问题的开断次数区间在1～10次中的占65.3%，11～20次中的占24.0%，21～30次中的占10.7%，30次以上的为0%，见表1。
表1：实验出现问题区段散布表
真空断路器实验出现问题区段散布表
规则：实验产品跟着开断次数的添加，实验失利率反而在大大削减。其间，产生问题的开断次数区间在1～10次中的占65.3%，11～20次中的占24.0%，21～30次中的占10.7%，30次以上的为0%，见表1。
开断失利的原因许多，主要有：
①开关安装调试不当，如灭弧室安装偏心，紧固螺丝松动，反弹或弹跳过大；
②组织可靠性差，行程特性曲线不理想；
③灭弧室内部缺点，如真空度不合格，老炼不充沛等。从表1可以看出，开断实验中大部分问题出现在电寿数实验开端阶段，一旦度过这段进程，熄弧失利的几率就开端减小。
失利的原因尽管不扫除灭弧室自身问题，但现在真空灭弧室的生产工艺和制作水平已适当老练，合格率适当高，而且出厂时还要经过数次高电压、小电流的充沛老炼，多道真空度检测工序，出现问题的概率应该说很小。其实就算是因为灭弧室自身的缺点形成开断失利（如熔焊、未灭弧），包含触头资料内部大量排气形成真空度下降，或者触头资料熔化后产生的金属微粒飞溅使灭弧性能下降等原因，也应该是跟着开断次数的增多，失利几率逐渐添加。可现实恰好相反。开断30次以上的试品都经过了电寿数实验，乃至是同一台产品连续成功做了两轮电寿数实验，即一起满意文[5]要求的274次E2级延长的电寿数实验和文[6]要求的满容量开断30次的电寿数实验。
由此可见，短路开断失利的关键因素并不在灭弧室自身，而在于断路器规划存在缺点，或者安装调试进程中的不仔细及人为疏忽等方面。可以说，一台规划合理、安装合格且调试杰出的开关，只需选配合格的真空灭弧室，理论上都可以经过几十乃至上百次的额外短路电流开断。
验证性实验及结果：
影响电寿数的主要因素是电磨损，包含灭弧室、灭弧介质、触头三方面，通常以为起决定作用的是触头的磨损，其取决于电弧能量即开断电流和燃弧时刻。大量的实验结果表明[7]：尽管燃弧时刻的长短对单次开断是随机的，其均匀燃弧时刻则是趋近的，即可疏忽首开相、后开相的影响，完全用开断电流作为参考量。
依据真空电弧理论剖析可知，真空电弧电压是一个挨近的数值，不受外施电压巨细的影响，只需一定巨细的外施电压就可保持真空电弧燃烧，所以只需短路电流满意要求，可以采取下降电压的方法进行电寿数开断实验[8~9]，其触头磨损程度应该可以等效全电压的状况。依据此原理，组成实验所用辅佐断路器因为每次均参加开断短路电流，也承受较高的恢复电压，故仍能满意对触头的磨损要求。所以，经过对2005-2006年站内组成实验用辅佐断路器开断实验的记载与剖析，来查核验证真空断路器的电寿数极限开断次数才能，实验原理见图1。图1中FD的灭弧室型号为TD-40.5/1600-31.5（编号0402578），自替换该灭弧室起，记载了其每一次的开断状况，一起为了满意实验的等价性，特意将它每次的燃弧时刻整定为9～11ms。不同于现在流行的等效累计法[10～11]，将各种开断电流全都等效计算至满容量下一起查核寿数，此次纪录没有考虑低于额外短路开断电流的状况，只记载了开断31.5kA额外短路电流次数，即灭弧室触头实践的磨损程度要比记载状况还要愈加苛刻。
断路器真空电弧理论验证
注：HK-合闸开关、SP-试品、FL-分流器、FD-辅佐断路器、YQ-延弧回
